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​研究設備

X光粉末繞射儀 
X-ray Diffractor (Rigaku MiniFlex II)

利用X光繞射原理(布拉格定律)測得材料(粉體或錠材)之結晶結構。本機台使用銅靶(Kα; λ= 0.154 nm)為光源,量測角度(2θ)為10° ~115°。

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